原位SEM力学样品台通过使用力学传感器中的静电施以载荷，用微压头将载荷施加到纳米材料上，同时通过电容记录位移，可以实现如压缩、弯曲、疲劳、纳米压痕和纳米划痕等测试。根据所得的力-变形（应力-应变）曲线，可以定量确定这些纳米结构的材料特性。

原位TEM力学加热样品台上的MEMS（微机电系统）力学芯片可外接力学控制器，在透射电镜内可动态实时观察样品材料微结构的变化。通过实时获取的载荷、形变等数据，以及透射电子显微镜所提供的材料微结构变化数据，实现了定量分析材料的微观力学性质、相变行为、取向变化、裂纹形成和扩展、材料疲劳和断裂机制、加速蠕变、分层、形成滑移面以及脱落等现象。该原位力学系统稳定性好，经过科学设计，实现漂移率最小化。

TEM全角度三维重构样品台在搭载直径3 mm铜网的传统三维重构样品台的基础上延伸，采用弹头的单轴旋转方式进行绕样品台全角度360°观察，可以接受棒状或圆锥形样品。

TEM三维重构样品台通过一系列的不同倾斜角获得样品的二维成像信息,并对其进行处理转化为三维信息，该样品台可直接组装直径3 mm的铜网样品，不仅可进行样品的三维重构，还可用于样品材料的扫描透射模式下高角环形暗场成像（HAADF-STEM）的高分辨分析。

TEM固体热-电-光样品台在不影响样品台双倾功能的前提条件下，在原位TEM固体加热加电样品台的基础上设计加载一个加光的功能，以实现加热加电的同时，可以通过外部光源引入不同波长和强度的光照。