• 通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、热复合多场自动控制及反 馈测量系统,结合EDS、EBSD等多种不同模式,实现从纳米层面实 时、动态监测样品在真空环境下随温度、施加力变化产生的微观结构 演化、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等 关键信息。

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    厂商性质:生产厂家
    更新日期:2022-11-01
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