透射电镜三维重构样品杆

简要描述：TEM三维重构样品台通过一系列的不同倾斜角获得样品的二维成像信息,并对其进行处理转化为三维信息，该样品台可直接组装直径3 mm的铜网样品，不仅可进行样品的三维重构，还可用于样品材料的扫描透射模式下高角环形暗场成像（HAADF-STEM）的高分辨分析。

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厂商性质：生产厂家
更新时间：2022-10-20
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TEM三维重构样品杆杆头.png

CHIPNOVA Single-tilt Tomography Holders（三维重构样品杆）通过一系列不同倾斜角获得样品的二维平面成像信息，使用软件处理后可获得三维立体成像信息。直接使用3mm铜网样品进行观察，支持扫描透射模式下的高角环形暗场成像(HAADF-STEM)高分辨分析。

我们的优势

创新设计，提高实验效率

1.双边紧固铜网方式，漂移率低，样品易组装。

2.中心对称设计，避免样品杆倾斜过程中重心偏移，提供迅速稳定的层析成像。

优异性能，Excellent体验

1.大于±80°的高倾斜角，保证视野。

2.高强度钛合金材质，高精度加工，经久耐用。

技术参数

项目	参数
杆身材质
样品直径
漂移率
旋转角
分辨率
兼容电镜
(HR)TEM/STEM
(HR)EDS/EELS/SAED

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透射电镜三维重构样品杆

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