透射电镜是一种把经加速和聚集的电子束透射到非常薄的样品上，电子与样品中的原子碰撞而改变方向，从而产生立体角散射。散射角的大小与样品的密度、厚度等相关，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件上显示出来的显微镜。透射电镜三维重构样品杆基于样品端超薄设计或360°旋转设计，满足生命科学、材料科学领域对三维重构表征的不同需求。透射电镜三维重构样品杆通过一系列不同倾斜角获得样品的二维平面成像信息，使用软件处理后可获得三维立体成像信息。直接使用3mm铜网样品进行...

透射电镜液体光学原位系统采用MEMS微加工工艺在原位样品台内构建液氛纳米实验室，通过样品台内置的光纤将光作为外场条件搭载其上，通过MEMS芯片和光纤引入的光源对样品施加光场刺激条件，在进行光学性质测量的同时，结合使用EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米甚至原子层面实时、动态监测样品在液氛环境中随光场变化产生的微观结构演化、反应动力学、相变、元素价态、化学变化、微观应力以及表/界面处的原子级结构和成分演化等关键信息。实验中，样品被密封在超薄...

透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电镜力电原位系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量，并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。本公司提供的透射电镜力电原位系统是通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统，结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式，实现从纳米层面实时、动态监测样品在真...

若TEM样品杆长期暴露于大气，空气中水汽及残留污染物会附着于样品杆表面。当样品杆重新安装样品并插入TEM中时，会发生：1.样品杆表面(包括杆内外表面)残存水汽缓慢地释放，大大延长了TEM抽真空时间(由于原位TEM样品杆内部结构复杂，内表面积大大增加，其进入TEM后抽真空延时现象尤甚)；2.残留污染物会污染待观察样品，甚至会污染TEM真空腔室及内部极靴、探测器等等。高真空存杆仪的极限真空度为10-6mBar(以10杆型号为例，用户可定制4杆、6杆等不同型号)，为样品杆提供高真空...

材料的宏观性能往往与其本身的成分、结构以及晶体缺陷中原子的位置等密切相关，在电子显微镜下观察微观结构离不开样品杆或样品台。样品杆的重要性还在于它是要插侧入式的样品放置在一个较长的金属入物镜，色差又与物镜性能相关联，这也就杆的*端，金属通常是黄铜或不锈钢，沿着使样品杆与TEM的分辨率联系在一起。透射电镜4孔样品杆可将最多4个样品同时置入透射电镜中，与市面常见的3孔样品杆相比，大幅提高透射电镜的使用效率。全新的结构设计及超高精度的旋钮换样方式，帮助降低漂移率，提高成像质量。透射电...