透射电镜双倾探针电学原位系统

简要描述:通过纳米探针对样品施加电场控制,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2022-11-01
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详细介绍

双倾三维探针样品杆杆头.png


我们的优势

纳米探针操纵系统

1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。

2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。


优异的电学性能

特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安


智能化软件

1.人机分离,软件远程调节电学条件,程序自动化控制倾转角度。

2.全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。



技术参数

功能

参数

杆体材质


控制方式


粗调范围X/Y/Z


粗调精度


细调范围X/Y/Z


细调分辨率


电压范围


电流范围


电流分辨率


倾转角


适用电镜


适用极靴


(HR)TEM/STEM


(HR)EDS/EELS/SAED




应用案例


图片6.png图片7.png



纳米碳球压缩实验,用纳米探针操纵单个纳米碳球进行原位力学压缩试验






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