透射电镜双倾探针电学原位系统

简要描述:透射电镜双倾探针电学原位系统通过纳米探针对样品施加电场控制,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-27
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详细介绍

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我们的优势

纳米探针操纵系统

1.高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。

2.可对单个纳米结构进行操纵和电学测量。


优异的电学性能

特殊设计保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级


智能化软件

1.人机分离,软件远程调节电学条件,程序自动化控制倾转角度。

2.全程自动记录实验细节数据,便于总结与回顾。




技术参数

类别项目参数
基本参数杆体材质高强度钛合金
控制方式高精度压电陶瓷
倾转角α≥±20°,β≥±20°(实际范围取决于透射电镜和极靴型号)
适用电镜Thermo Fisher/FEI, JEOL, Hitachi
适用极靴ST, XT, T, BioT, HRP, HTP, CRP
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持



























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