高分辨原位力学控制系统
更新时间：2021-04-09
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产品特点：高分辨原位力学控制系统采用感应微压头，在透射电子显微镜内可直接观察纳米机械测试。
高分辨原位力学控制系统的详细资料：
高分辨原位力学控制系统采用感应微压头，在透射电子显微镜内可直接观察纳米机械测试。通过该系 统，不仅可以对纳米材料进行机械挤压的成像，而且同时可以获取载荷-位移数据。另外，用户可选择 Push-to-Pull模块可实现样品拉伸实验，或者选择加热模块可实现热场和力场耦合实验，加热模块可选搭 载push-to-pull模块的程序升温方式（RT-1000℃，±1K）或者电阻加热方式（RT-1300℃，±1K），或者 选择加电模块（大电压±50V，电流范围：±10pA~±250mA）
独特优势 ：
1.支持多种力学测试
a.压缩、拉伸、弯曲、压痕、划痕等测试
b.大拉伸位移达20μm
2.力学测量
a.载荷范围：1μN~100mN
3.稳定性好
a.科学设计，漂移率小
b.传感器热漂移低于0.5nm/
4.模块化设计
a.可扩展加电或加热模块
高分辨原位力学控制系统技术参数：
| 温度范围 | RT |
| 分辨率 | 电镜分辨率 |
| 行程 | XY方向10mm，Z方向20mm |
| 载荷量程 | >100mN |
| 小载荷 | <0.5μN* |
| 纵向载荷分辨率 | ≤100nN* |
| 大拉伸位移 | 20μm |
| 位移分辨率 | ≤0.1nm* |
| 位置分辨率 | 1nm* |
| 传感器热漂移 | ≤0.5nm/s |
| 扩展 | 可增配加电、加热模块 |
| (HR)TEM/STEM | √ |
| (HR)EDS/EELS | √ |
| 倾转角 | α=±30° |
| 适用电镜 | FEI,JEOL,Hitachi |
| 适用极靴 | All |
| *测试的载荷背景噪音10Hz | |
应用领域 ：
1.材料力学研究 ：力和位移瞬态效应相关材料的研究、 位错研究 、应力下的2.晶相转变研究 、纳米线、纳米球的力学测试，剪切带或断裂发生 材料力学测试 ：压痕测试、 拉伸测试（配拉伸台）、 弯曲测试 、纳米压痕测试 、纳米划痕测试
1.材料力学研究 ：力和位移瞬态效应相关材料的研究、 位错研究 、应力下的2.晶相转变研究 、纳米线、纳米球的力学测试，剪切带或断裂发生 材料力学测试 ：压痕测试、 拉伸测试（配拉伸台）、 弯曲测试 、纳米压痕测试 、纳米划痕测试
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