透射电镜全角度三维重构样品杆

简要描述:透射电镜全角度三维重构样品杆在搭载直径3 mm铜网的传统三维重构样品台的基础上延伸,采用弹头的单轴旋转方式进行绕样品台全角度360°观察,可以接受棒状或圆锥形样品。

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  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2023-12-27
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详细介绍


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CHIPNOVA Single-tilt Tomography Holders(全角度三维重构样品杆)在普通三维重构样品杆的基础上升级而来,采用圆锥形单轴360°旋转方式,全角度得到样品更多二维成像信息,避免锲形信息丢失。



我们的优势

创新设计

1.高强度钛合金特殊结构设计,高精度加工,经久耐用。

2.C型针尖创新结构设计,保证铜网稳定性,不会对EDS分析造成干扰。

3.可替换式针尖,方便同一样品在TEM、FIB、AP等多平台转移,获取更全面信息。


高质量成像

1.单轴针尖可360°高精度旋转,获取更多二维成像信息,避免锲形信息丢失。

2.C型针尖为3mmHalf-Grid设计,α角最大旋转角度为±90°,避免样品阴影,提供高质量层析成像数据。



技术参数

类别项目参数
基本参数杆体材质高强度钛合金
样品直径棒状、圆锥形、3mm Half-Grid
漂移率<0.5 nm/min(稳定状态)
分辨率电镜极限分辨率
兼容电镜Thermo Fisher/FEI,JEOL,Hitachi
(HR)TEM/STEM支持
(HR)EDS/EELS/SAED支持




   







应用案例

电子断层扫描对纳米尺度地质材料的三维分析

参考文献来源:Three-dimensional Analyses of Geological Materials on Nanoscale by Electron Tomography[J]. Atomic Spectroscopy, 2022.

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最大倾斜角度为±54°、间隔为6°的一系列倾斜图像重建结果。


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同一样品的元素和氧化态重构模型的3D视图。












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