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技术参数:
●可进行全角度360°图像采集,避免锲形信息丢失;
●实现精密的样品轴向旋转;
●适合棒状样品或圆锥形样品;
●特别适合聚焦离子束(FIB)制备的样品;
●特别适合原子探针断层扫描(APT)和场离子显微镜(FIM)的样品;
●兼容所有物镜极靴。
TEM全角度三维重构样品台在搭载直径3mm铜网的传统三维重构样品台的基础上延伸,采用弹头的单轴旋转方式进行绕样品台全角度360°观察,可以接受棒状或圆锥形样品。通过一系列的不同倾斜角获得样品的二维成像信息,并对其进行处理转化为三维信息,不仅可进行样品的三维重构,还可用于样品材料的扫描透射模式下高角环形暗场成像(HAADF-STEM)的高分辨分析。
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