多孔氮化硅TEM载网有什么作用?

更新时间:2023-04-24      点击次数:713
  透射电子显微镜(TEM)是使用较为广泛的电子显微镜之一,和扫描电子显微技术共同组成了电子显微学的“两大支柱”。TEM的测试原理是利用透过样品的电子进行成像和结构分析,由于电子的穿透能力较弱,样品的厚度、导电性、磁性和分散性等特征对测试结果的好坏起到直接的影响。因此,相比于扫描电镜样品的制备,透射电镜的制样更加复杂和精细,对于不同的材料应当根据其特性并采用合适的制样方法。
  TEM测试中,为了获取高质量的样品图像,制样很关键。在制样的过程中,其中载网的选择也是至关重要。载网通常是一种多孔的金属片,对样品起加固和支撑作用。
  本公司提供的多孔氮化硅TEM载网是透射电镜常用的耗材之一,其主要作用为在电镜观察时负载样品,为了能够负载一些小尺寸的样品,载网上通常需要覆盖一层载网膜,载网膜的种类繁多,常见的载网膜为碳膜。多孔氮化硅TEM载网是以高纯单晶硅为基底,超薄氮化硅(10-50nm)为支撑膜,可实现原子级分辨率。具有耐电子束辐照,电子束穿透率高,成像背景均匀和噪音小等优点。
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