多孔氮化硅TEM载网以高纯单晶硅为基底，超薄氮化硅（10~50nm）为支撑膜。这种设计不仅确保了载网的高强度和稳定性，还使其具有优异的电子束穿透性和成像质量。多孔氮化硅TEM载网与传统铜网相比，使用的超薄氮化硅膜不含碳元素，可有效避免积碳，尤其适合球差原子分辨表征。超薄氮化硅膜更耐酸耐高温，适用于酸性条件下制备样品，及1000摄氏度的高温环境。具有耐电子束辐照，电子束穿透率高，成像背景均匀和噪音小等优点。可以在不同分析仪器间转移分析，如TEM，AFM，XRD，EXAFS，Ra...

透射电镜力电原位系统通过MEMS(微机电系统)芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统。该系统结合了多种透射电镜(TEM)的分析模式，以实现对样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化的实时监测，能够为研究纳米尺度材料及器件提供电学性能分析支撑。透射电镜力电原位系统的应用如下：1.材料科学：用于研究材料的晶体结构、晶格缺陷、晶界和界面，以及材料的相变和相互作用。这对于新材料的开发与性能优化具有重要...

透射电镜4孔样品杆是一种在透射电子显微镜(TEM)中使用的关键部件，它允许研究人员同时将最多4个样品置入透射电镜中进行观察和分析。与市面常见的3孔样品杆相比，透射电镜4孔样品杆大幅提高了透射电镜的使用效率。可实现透射电镜内的光电测量或光谱学表征研究。透射电镜4孔样品杆的主要特点：1、高效性：可同时放置4个样品，显著提高实验效率。2、高精度：采用超高精度的旋钮换样方式，帮助降低漂移率，提高成像质量。3、创新设计：创新的弹性铜片固定方式和超高精度旋钮，进一步减小漂移，提升成像效果...

高真空存杆仪是一种专为透射电子显微镜(TEM)样品杆设计的设备，它主要用于为样品杆提供高真空的存储环境，以避免样品杆在存储过程中吸附湿气、纳米纤维等杂质，从而减少对TEM真空腔室的污染，该产品的设计有便捷的取放机制，使得研究人员可以轻松地取出和放回样品杆，提高实验效率。本公司提供的CHIPNOVA高真空存杆仪的极限真空度为10-6hPa，*多可同时为6根TEM样品杆提供高真空存储环境，避免暴露在空气中吸附湿气及纳米纤维等杂质，减少样品杆进电镜后的抽真空时间，延长样品杆使用寿命...

传统透射电镜表征技术只能得到材料的二维图像无法准确直观地表征材料的三维空间构造，近年来兴起的三维重构技术可解决该问题，它是利用电子显微技术与计算机图像处理结合形成的三维重构方法，已渐渐在纳米材料、生物科学领域得到重要应用。透射电镜三维重构样品杆是用于透射电子显微镜(TEM)中的一种关键设备，主要用于获取材料的三维结构信息。透射电镜三维重构样品杆通过一系列不同倾斜角获得样品的二维平面成像信息，然后使用专门的软件处理这些二维图像，然后获得样品的三维立体成像信息。这种技术对于材料科...