透射电镜三维重构样品杆的应用领域：
材料科学：纳米颗粒、纳米线、催化剂、锂电池材料、钙钛矿、二维材料的三维形貌和晶体结构解析。
生物医学：蛋白质、病毒、细胞器等生物大分子的冷冻电镜三维结构解析（单颗粒分析、电子断层成像）。
地质与化工：矿石、沸石、MOFs等多孔材料的孔道结构三维表征。
半导体：纳米器件的三维结构分析和失效分析。
使用注意事项：
样品厚度尽量控制<200 nm，太厚会造成多重散射、图像模糊；FIB 针样直径通常 100–300 nm
大倾转时样品投影变长，要预留足够成像区域；
实验前必须校准共心高度，否则倾转过程图像跑丢；
样品杆需要充分静置热稳定；优先选用低漂移型号；
360°自旋转杆只能装载 FIB 针状样品，普通铜网样品无法使用。
