透射电镜双倾热电原位系统的工作原理与应用

更新时间:2026-04-29      点击次数:18
透射电镜双倾热电原位系统是一套集成双轴倾转、精密加热、电学测控的原位样品杆系统,核心价值是在原子分辨率下,实时观察材料在温度、电场耦合作用下的微观结构与性能演化,是热电材料、半导体、电催化等领域的核心原位表征工具。

透射电镜双倾热电原位系统通过MEMS芯片在TEM样品杆内构建热-电复合多场环境,结合EDS(能谱分析)、EELS(电子能量损失谱)、SAED(选区电子衍射)、HRTEM(高分辨透射电镜)和STEM(扫描透射电镜)等多种模式,实时监测样品在真空环境下随温度、电场变化的微观结构、相变、元素价态、微观应力及表/界面原子级结构演化。

应用场景:

热电材料研究:

观测热电材料在电压/温度变化下的微观结构演变,揭示其热电性能与微观结构的关联机制。

研究热电材料在热-电耦合条件下的失效分析。

金属-陶瓷复合材料:揭示活性金属与陶瓷在热处理和加电条件下的界面反应机制。

高温合金与相变材料:

原位观察高温合金在高温下的形变机理。

研究相变存储材料在电场作用下的结构演化,为材料设计提供依据。

能源材料与器件:

分析锂离子电池正极材料在充放电过程中的结构变化,优化电极材料性能。

研究柔性电子器件在力-电耦合作用下的可靠性,指导器件设计。

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