您了解透射电镜力电原位系统吗?

发表时间:2023-02-20      点击次数:112
透射电子显微镜是提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电镜力电原位系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元,通过探针对单个纳米结构进行操纵和电学测量,并可在电学测量的同时,动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征。

本公司提供的透射电镜力电原位系统通过MEMS芯片在原位样品台内构建力、电复合多场自动控制及反馈测量系统,结合EDS、EELS、SAED、HRTEM、STEM等多种不同模式,实现从纳米层面实时、动态监测样品在真空环境下随电场、施加力变化产生的微观结构、相变、元素价态、微观应力以及表/界面处的结构和成分演化等关键信息。

透射电镜力电原位系统的优势:

1、力学性能

(1)高精度压电陶瓷驱动,纳米级别精度数字化精确定位。

(2)可进行压缩、拉伸、弯曲等微观力学性能测试。

(3)nN级力学测量噪音。

(4)具备连续的载荷-位移-时间数据实时自动收集功能。

(5)具备恒定载荷、恒定位移、循环加载控制功能,适用于材料的蠕变特性、应力松弛、疲劳性能研究。

2、优异的电学性能

(1)芯片表面的保护性涂层保证电学测量的低噪音和精确性,电流测量精度可达皮安级。

(2)MEMS微加工特殊设计,电场和力学加载同时进行,相互独立控制。

3、智能化软件

(1)人机分离,软件远程控制纳米探针运动。

(2)自动测量载荷-位移数据。

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