您好,欢迎进入厦门超新芯科技有限公司网站!
一键分享网站到:
产品列表

PROUCTS LIST

相关新闻

NEWS

    暂时没有信息
产品中心Products 当前位置:首页 > 产品中心 > > 原位电镜相关设备 > 高真空检漏仪

高真空检漏仪

高真空检漏仪

更新时间:2020-01-07

产品型号:HVLD-FEI/JOEL/HITACHI (Ⅰ)

产品报价:

产品特点:高真空检漏仪在将样品放进电镜前,仔细检验样品芯片安放是否存在泄露是必要的,这可以提高原位样品台的使用效率,保护透射电镜。

HVLD-FEI/JOEL/HITACHI (Ⅰ)高真空检漏仪的详细资料:


产品型号:

高真空检漏仪 High Vacuum Leak Detector

HVLD-FEI/JOEL/HITACHI (Ⅰ) 

产品说明:
在将样品放进电镜前,仔细检验样品芯片安放是否存在泄露是必要的,这可以提高原位样品台的使用效率,保护透射电镜。

产品用途:
该设备是专门用于TEM样品台真空储存和密封检查。它能够在5min内将系统内真空度抽至10^(-5)mBar,即TEM内的真空环境。搭配的超高分辨数字显微系统,自带13寸显示器及自动变焦功能,放大倍率达800X, 分辨率达1微米。研究人员可轻松完成液体池或气体池的密封性、完整性检查。并可观察芯片窗体是否破裂或者污染,检验样品在窗体分布情况。

高真空检漏仪工作原理:
采用高分辨显微镜平台,xy轴微运动集成,以及高分辨电子相机和显示屏,完全契合电镜使用,具有极高的直接压力分辨率和泄漏检测灵敏度,并具有强大的扩展输入和输出、多通道参数设置和选择、大容量记录和存储、通信处理、质量检测、数据传输的功能等等。检测灵敏度高,位置精确,操作便捷。


标准配置清单:

序号

分项内容

数量

1

可视化高真空原位检漏腔体(适配)

1套

2

真空数据数据读取及控制器

1套

3

检漏仪支架及柜体

1台

4

高真空发生系统

1套

5

高分辨数字显微系统

自动对焦相机、数码显示屏、高分辨显微镜、照明同轴光源

1套

6

三维移动支架

1套

7

包装、运输及保险


技术参数
1) 压力范围:0-1000mbar。
2)适用电镜样品台:FEI、JEOL、Hitachi(适配)
3)适用原位反应舱芯片:自组装键合一体式芯片,加热芯片,纳流体芯片。
4)极限真空小于等于1×10-5 mBar,原位样品台检漏操作真空度小于等于8×10-5 mBar。
5)接口模块含控制阀门,以在电源关闭时保持真空状态,或在检漏完成,实现检漏模块气体通入,加速样品台取出过程。
6)数字显微系统分辨率优于1微米,帧率大于等于30帧/秒。

 如果你对HVLD-FEI/JOEL/HITACHI (Ⅰ)高真空检漏仪感兴趣,想了解更详细的产品信息,填写下表直接与厂家联系:

留言框

  • 产品:

  • 留言内容:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 详细地址:

  • 省份:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7

厦门超新芯科技有限公司(www.chip-nova.com.cn)

总流量:9012  管理登陆  技术支持:化工仪器网  

版权所有 © 2020 厦门超新芯科技有限公司  ICP备案号:
QQ在线客服
电话咨询
  • 13696997869