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TEM固体加热加电样品台

TEM固体加热加电样品台

更新时间:2021-07-27

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产品特点:TEM固体加热加电样品台:
对样品程序升温降温直接观察不同温度下的材料行为,实现电场以及加热同时进行的相关实验通过精确的热场模拟及独特的芯片设计,实现超低漂移的加热加电过程,同时实现高分辨成像、SAED、EDS、EELS等表征。

TEM固体加热加电样品台的详细资料:

TEM固体加热加电样品台适用电镜FEI、JEOL、Hitachi;

●双:α≥25°,β≥25°(具体角度视电镜极靴型号而定);

●超窗(可10 nm),可达到皮米级分辨率;

●图统对标样品进行实时锁定,捕获反应过程中的关键信息,可以快速从大量的数据信息中筛选处理;

●电极数:6电极,可同时进行加热加电原位实验;

●高精度、高频反馈控温模式,具有实时温度控制及精确测量功能,内置绝对温标, 并可软件自动标定,对任一芯片的每次升温过程进行自动校正和模拟出最优的升温曲线,而非统计学的拟合曲线加热,能更好地反映热场实情并可自定义程序升温曲线,设置升温速度,确保每片芯片每次测量温度的精确性,不受使用次数的 影响而降低,保证高温实验的重复性及可靠性;

●独特的加热区域设计方案,温度均匀性>99.5%,温度稳定性≤0.01℃, 温度精确度>99%;

TEM固体加热加电样品台温度范围RT~1300℃,1300℃持续进行高温实验而芯片不破裂,当加热和电学试验同时进行时,温度不高于900℃的情况下依然能进行电学表征;

●升温快、温度场和电场稳定且均匀,升温过程样品几乎无漂移;

●电场强度≥400 kV/cm,电压范围:±200 V,最小电流检测10pA。








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